Мы используем файлы cookies для улучшения работы сайта НИУ ВШЭ и большего удобства его использования. Более подробную информацию об использовании файлов cookies можно найти здесь, наши правила обработки персональных данных – здесь. Продолжая пользоваться сайтом, вы подтверждаете, что были проинформированы об использовании файлов cookies сайтом НИУ ВШЭ и согласны с нашими правилами обработки персональных данных. Вы можете отключить файлы cookies в настройках Вашего браузера.

  • A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Тема «патентная аналитика»

Иллюстрация к новости: Технологический потенциал России: далеко ли до лидерства?

Технологический потенциал России: далеко ли до лидерства?

Институт статистических исследований и экономики знаний НИУ ВШЭ представляет карту зон технологического лидерства и отставания России, сформированную на основе анализа патентной активности страны в последнее десятилетие.

Внутренний рынок результатов интеллектуальной деятельности

Институт статистических исследований и экономики знаний (ИСИЭЗ) НИУ ВШЭ представляет данные о развитии внутреннего рынка результатов интеллектуальной деятельности (РИД) в 2013–2018 гг.

Патентные ориентиры в поиске научных прорывов

29 ноября 2018 года в Высшей школе экономики завершился Национальный обучающий семинар для специалистов Центров поддержки технологий и инноваций, в течение трех дней проходивший на разных площадках по инициативе Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС), Роспатента и Федерального института промышленной собственности (ФИПС). Сотрудники ВШЭ представили свои подходы к анализу патентов и правовому сопровождению результатов интеллектуальной деятельности. Наработки университета в сфере патентной статистики и интеллектуального анализа больших данных, который ее все заметней усиливает, по признанию участников семинара, их весьма вдохновили, расширили горизонты знаний.